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网络研讨会: 颗粒分析:激光衍射是否足以控制金属粉末的质量

用于添加剂制造的粉末必须达到最高质量标准。Microtrac提供了两种金属粉末的颗粒表征方法:激光衍射(LD)和动态图像分析(DIA)。这两种方法都提供了粒径分布,但只有成像方法也检测颗粒形状,这对粉末的适用性在添加剂制造领域是至关重要的。在本次网络研讨会中,我们将讨论这两种技术,并介绍两种分析仪:一种是结合LD和DIA的SYNC,另一种是纯图像分析设备CAMSIZER X2。 主题:什么是激光衍射,能用它测量什么?图像分析如何改善激光衍射结果?为什么使用像X2这样的专用图像分析设备?应用实例:SYNC和CAMSIZER X2金属粉末的测量。 由米兰体育官方免费下载的产品专家Kai Düffels介绍。

网络研讨会记录


语言 : 英语

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